超声波测厚仪特点：●适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。 ●可配备多种不同频率，不同晶片尺寸的双晶探头使用。 ●具有探头零点校准、两点校准功能，可对系统误差进行自动修正。 ●已知厚度可以反测声速，以提高测量精度。 ●具有耦合状态提示功能。

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详细介绍

显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

测量范围：（0.75～300）mm（钢中），公制与英制可自由转换；

声速范围：（1000~9999） m/s：

分辨率：0.1mm/0.01mm可选

示值精度：±（0.5%H+0.05）mm; H为被测物实际厚度

测量周期：单点测量时每秒钟4次、扫描模式每秒钟10次；

存储容量：可存储20组（每组zui多100个测量值）厚度测量数据

工作模式：具有单点测厚和扫描测厚两种测厚工作模式

单位制：公制或者英制（可选）

工作电压：3V（2节AA尺寸碱性电池）

持续工作时间：大于100h（不开背光时）

通讯接口：RS232，可与微型打印机或PC连接

外形尺寸：150mm×73mm×31 mm

整机重量：185g

超声波测厚仪适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

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