高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准（F28-75）及国家标准GB/T1553-1997设计制造。

产品型号：LT-1ρ≥3Ω
厂商性质：生产厂家
更新时间：2024-09-01
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详细介绍

高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准（F28-75）及国家标准GB/T1553-1997设计制造，广泛应用于工厂的常规测量。寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

少子寿命测试仪配置：

光脉冲发生装置（重复频率＞25次/s    脉宽≥60μs           光脉冲关断时间＜5μs
红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶）脉冲电源：5A～20A）
高频源（频率：30MHz        低输出阻抗            输出功率＞1W）
放大器和检波器（频率响应：3Hz～1MHz）
配用示波器（配用示波器：频带宽度不低于10MHz    Y轴增益及扫描速度均应连续可调
如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源）
寿命测试范围：10~6000μs
主机外形尺寸：W470×D365×H155
总重量：12Kg
电源：～220V 50Hz    功耗＜50W

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高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准（F28-75）及国家标准GB/T1553-1997设计制造。

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